Optical Metrology 2010 – международная конференция по интеграции оптической измерительной техники в промышленность и научные исследования. Optical Metrology 2010 – мероприятие, на котором встречаются ведущие специалисты разных отраслей промышленности для обмена опытом. Optical Metrology 2010 состоит из 2 отдельных мероприятий: Измерение деформации при контроле материала и деталей: 20.09 - 21.09.2010 Оцифровка при контроле качества, инспекции и реверсинжиниринге: 22.09 - 23.09.2010 Место проведения: г. Брауншвейг. Язык конференции: английский.