главная » новости
СОСТОЯЛАСЬ МЕЖДУНАРОДНАЯ GOM КОНФЕРЕНЦИЯ - OPTICAL METROLOGY 2009  
19.06.2009
Состоялась международная GOM конференция - Optical Metrology 2009
В период с 25 по 28 мая состоялась международная GOM конференция - Optical Metrology 2009 в отделении фирмы GOM mbH в Брауншвейге, на которой присутствовало более 400 участников

Optical Metrology – международная конференция по применению измерительной техники в промышленности и научных исследованиях. Это мероприятие, на котором встречаются ведущие специалисты разных отраслей промышленности, и представляет собой платформу для обмена опытом для менеджеров, специалистов по измерениям, а также экспертам по технологии и научным исследованиям.

Применение контроля качества, быстрого изготовления, обратного инжиниринга, контроля материалов и компонентов в промышленности было представлено фирмами ABB, Airbus, Audi, Ford, Gienanth, Hцrmann, MGG Casting, NASA, Salzgitter Mannesmann, Skoda Auto, Volkswagen и др.

в научно-исследовательских целях – следующими учебными заведениями: IPF Dresden, LFT Erlangen, Technical University Munich, Technical University of Denmark, University Groningen, University of Poznan, ...

Обсуждались вопросы сокращения сроков разработки изделий и оптимизации производства с помощью оптической трехмерной измерительной техники. Пользователи поделились своим опытом применения систем фирмы GOM. Специалистами фирмы GOM были продемонстрированы все измерительные системы в работе и даны ответы на вопросы участников конференции.

Фирма GOM mbH с 1998 г. организует регулярное проведение мероприятий с целью ознакомления с областями применения и возможностями оптической измерительной техники. Благодаря обмену мнениями между экспертами и пользователями можно заранее определить новые тенденции и задачи, чтобы при разработке оптической измерительной техники учесть требования промышленности и научных исследований.

Фирма GOM mbH благодарит всех участников и докладчиков, которые состоявшимся обменом мнениями и докладами способствовали тому, чтобы учредить эту конференцию как High-Light в области оптической измерительной техники.

Если Вы не смогли принять участие в GOM конференции Optical Metrology 2009, но желаете получить доклады на CD, отправьте заказ по электронной почте conference@gom.com на фирму GOM mbH или center@mcp.by на нашу фирму в Минск

Будем рады приветствовать на нашей следующей международной GOM конференции всех заинтересованных лиц, принимающих решения, руководителей проектов и специалистов по измерениям в области обеспечения качества, разработки изделий, контроля деформации и материала осенью 2010 года.


вернуться»
Последние новости
27.06.2019
24.06.2019
28.12.2018
28.12.2018
06.06.2018
 



Создание и дизайн сайта - веб-студия "Каспер"     © 2007-2017 г. MCP Technology Center