Конференция по Оптической Метрологии - уникальный случай в обмене опытом лидеров промышленности. Цель состоит в том, чтобы предложить платформу для руководителей, инженеров, метрологов, технологов и исследователей для обмена опытом прикладныго применения систем.
Оптическая Метрология 2009 разделена на две конференции:
Измерение деформации
по материалам, тестированию компонентов и трехмерному анализу движения
13:00 25.05.2009 до 13:00 26.05.2009
Оцифровка
по контролю качества, анализу и обратному проектированию
13:00 27.05.2009 до 13:00 28.05.2009

Конференция бесплатная и будет проводиться в г. Брауншвейге, Германия.
GOM регулярно проводит международные конференции уже больше 10 лет. В конференциях принимают участия специалисты автомобильной промышленности, авиации и энергетики, их поставщики, изготовители товаров народного потребления, исследовательские центры и университеты. Конференции предлагают участникам возможность обменяться идеями, изучить новые методы и расширить области применения, учась от коллег подобных и других отраслей промышленности.
• Обсуждение общих проблем
• Обмен идеями
• Расширение области применения
• Изучение новых технологий
• Обмен технологиями с коллегами

Регистрация на сайте http://www.gom-conference.com/en/index.html

Запрашивайте дополнительную информацю